絕緣電阻測(cè)試儀,高達(dá) 10kV 的數(shù)字式絕緣測(cè)試新型 1555 和經(jīng)過(guò)重新設(shè)計(jì)的 Fluke 1550C 絕緣電阻測(cè)試儀可進(jìn)行高達(dá) 10kV 的數(shù)字式絕緣測(cè)試,這使得它們非常適合廣泛的高壓設(shè)備,如開(kāi)關(guān)柜、電動(dòng)機(jī)、發(fā)電機(jī)和電纜。
現(xiàn)在,絕緣測(cè)試儀可進(jìn)行 IEEE 43-2000 中規(guī)定的全方位電壓測(cè)試,**等級(jí)達(dá) CAT IV 600 V,是同類儀器中的*佳產(chǎn)品,并提供 3 年保修。1555 和 1550C 帶有測(cè)量值存儲(chǔ)器和 PC 接口,可在潛在設(shè)備故障發(fā)生之前將其發(fā)現(xiàn),是用于預(yù)防性或預(yù)測(cè)性維護(hù)的理想工具。
功能與優(yōu)點(diǎn)
測(cè)試電壓高達(dá) 10 kV,適合所有應(yīng)用
CAT III 1000 V, CAT IV 600 V **等級(jí)
電壓擊穿檢測(cè)功能可提醒用戶存在電壓,并給出*高 600 V(交流或直流)的電壓讀數(shù),提高了用戶**性
在 250 - 1000 V 范圍內(nèi),可以 50 V 步長(zhǎng)選擇測(cè)試電壓;高于 1000 V 時(shí),可以 100 V 步長(zhǎng)選擇測(cè)試電壓
可在多達(dá) 99 個(gè)存儲(chǔ)位置存儲(chǔ)測(cè)量值,每個(gè)位置可分配一個(gè)**的用戶定義標(biāo)簽,以便調(diào)用
電池壽命長(zhǎng),兩次充電之間可進(jìn)行 750 次以上測(cè)試
自動(dòng)計(jì)算介質(zhì)吸收比 (DAR) 和極化指數(shù) (PI),無(wú)需其他設(shè)置
保護(hù)系統(tǒng)可消除高阻測(cè)量時(shí)表面泄漏電流的影響
絕緣電阻測(cè)試儀大號(hào)數(shù)字式/模擬式 LCD 顯示屏,便于查看
可進(jìn)行電容和泄漏電流測(cè)量
絕緣電阻測(cè)試儀具有用于擊穿測(cè)試的斜坡功能
可測(cè)量高達(dá) 2T? 的電阻
定時(shí)測(cè)試時(shí),可進(jìn)行*長(zhǎng) 99 分鐘的定時(shí)器設(shè)置
3 年保修
技術(shù)參數(shù)
所規(guī)定的絕緣電阻測(cè)試儀準(zhǔn)確度是校準(zhǔn)之后一年之內(nèi)在 0 °C 至 35 °C 工作溫度下的準(zhǔn)確度。工作溫度超出此范圍時(shí)(-20 °C 至 0 °C 以及 35 °C 至 50 °C),需將準(zhǔn)確度數(shù)值增加 ± 0.25 % / °C,但在 20 % 誤差范圍時(shí),需增加 ± 1 % /°C。
絕緣電阻測(cè)量 |
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測(cè)試電壓(直流) |
量程(直流) |
準(zhǔn)確度(± 讀數(shù)) |
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250 V |
< 200 kΩ |
未規(guī)定 |
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500 V |
200 kΩ |
未規(guī)定 |
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1000 V |
< 200 kΩ |
未規(guī)定 |
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2500 V |
< 200 kΩ |
未規(guī)定 |
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5000 V |
< 200 kΩ |
未規(guī)定 |
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10000 V |
< 200 kΩ |
未規(guī)定 |
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條形圖范圍 |
0 至 1 TΩ |
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絕緣測(cè)試電壓準(zhǔn)確度 |
-0 %, +10 %,在 1 mA 負(fù)載電流下 |
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感應(yīng)交流電流抑制 |
2 mA *大值 |
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容性負(fù)載充電速率 |
5s/μF |
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容性負(fù)載放電速率 |
1.5s/μF |
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Leakage current measurement |
范圍:1 nA 至 2 mA |
準(zhǔn)確度:± (5 % + 2 nA) |
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電容測(cè)量 |
范圍:0.01 uF 至 15.00 μF |
準(zhǔn)確度:± (15 % 讀數(shù) + 0.03 μF) |
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定時(shí)器 |
范圍:0 - 99 分鐘 |
分辨率準(zhǔn)確度: |
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帶電電路警告 |
警告范圍: |
電壓準(zhǔn)確度: |